3. edycja Targów LABS EXPO w Poznaniu
PCA, PKN i GUM będą gospodarzami konferencji pt. „Akredytacja, metrologia i normalizacja w laboratoriach”, która odbędzie się 19 marca 2025 r. podczas Targów Wyposażenia i Technologii Laboratoryjnych LABS EXPO.
Przedstawiciele branży laboratoryjnej, świata nauki i biznesu spotkają się w Poznaniu już po raz trzeci. LABS EXPO to największe tego typu wydarzenie w Polsce. Targi, które podczas ubiegłorocznej edycji zgromadziły 117 wystawców, są okazją do zaprezentowania najnowocześniejszego sprzętu i innowacyjnych rozwiązań technologicznych dla laboratoriów. Będzie też można zapoznać się z działalnością instytutów naukowych, ośrodków badawczych i jednostek certyfikujących.
Jak co roku Targi LABS EXPO przyciągają bogatym programem wydarzeń towarzyszących – konferencji, seminariów, warsztatów i spotkań z ekspertami. Tradycją dwóch poprzednich edycji stała się konferencja współorganizowana przez Polskie Centrum Akredytacji, Polski Komitet Normalizacyjny i Główny Urząd Miar. W tym roku odbywa się ona pod hasłem „Akredytacja, metrologia i normalizacja w laboratoriach”.
W programie konferencji:
- Akredytacja – nowe rozwiązania i kierunki zmian w obszarach regulowanych – Michał Rzytki, Zastępca Dyrektora PCA
- Pobieranie próbek i badania dla potrzeb obszarów regulowanych – co powinno uwzględniać laboratorium – Katarzyna Perka, Dział Akredytacji Badań Chemicznych PCA
- Elastyczny zakres akredytacji – nowa koncepcja opisu i wykorzystania – Hanna Tugi, Kierownik Działu Akredytacji Badań i Certyfikacji Żywności PCA
- Wyposażenie pomiarowe w laboratorium – kiedy, gdzie lub jak wzorcować – Tadeusz Matras, Kierownik Biura ds. Akredytacji PCA
- CRM w zapewnieniu spójności pomiarowej – zmiany w polityce ILAC P10 – Katarzyna Wiśniewska, Kierownik Działu Akredytacji Wzorcowań PCA
- Normalizacja w laboratoriach – możliwości aktywnego uczestnictwa, produkty i usługi normalizacyjne – Wojciech Mazurek, Zastępca Dyrektora Wydziału Relacji Zewnętrznych PKN, Joanna Skwarek, Pełnomocnik Prezesa ds. Zintegrowanego Systemu Zarządzania PKN
- Świętokrzyski Kampus Laboratoryjny GUM w Kielcach – szansa na innowacyjne projekty B+R – dr Andrzej Kurkiewicz, Dyrektor Departamentu Innowacji i Rozwoju GUM
- Normatywne i metrologiczne aspekty produkcji i certyfikacji materiałów odniesienia – Ewa Malejczyk, Główny Metrolog w Laboratorium Wzorców Fizykochemicznych GUM
- Metrologia wielkości geometrycznych w Polsce – Dariusz Czułek, Dyrektor Zakładu Czasu i Długości GUM
Zapraszamy również do odwiedzenia wspólnego stoiska PCA, PKN i GUM – D17
Rejestracja i informacja o biletach: https://rejestracja.labsexpo.pl/default